Las capacidades de fabricación de materiales y dispositivos a escala micro/nanométrica en obleas de 8” del Instituto de Tecnología Nanofotónica no sólo son notables, sino que están actualmente ampliándose de forma significativa para alcanzar un nivel superlativo en España y Europa. En el marco de esta ampliación de capacidades, que también incluye nuevas técnicas de caracterización, una de las necesidades perentorias del Instituto es la rápida caracterización composicional de capas de materiales cristalinos, crecidos epitaxialmente o por otras técnicas de fabricación, que también permita detectar la presencia de defectos estructurales, texturas, e incluso la presencia de cierto grado de ordenación (atómica o de poros). La cristalografía de rayos X es una técnica muy potente y versátil, perfecta para el cometido anteriormente descrito, puesto que permite el estudio y análisis de materiales en base al fenómeno de difracción de los rayos X (DRX) por sólidos en estado cristalino. Para resumir el funcionamiento de este fenómeno, cuando la materia objeto de estudio es irradiada por rayos X, éstos son difractados por los electrones que rodean los átomos, debido a que su longitud de onda es del mismo orden de magnitud que el radio atómico del material. El haz de rayos X emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo de átomos encontrados en su camino. En el caso de los materiales cristalinos, gracias a su estructura periódica, dispersan elásticamente los haces de rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por interferencia constructiva, originando un patrón de difracción. Es posible observar y medir la intensidad y posición de los rayos X difractados, y el análisis matemático de dicha información permite obtener una representación de la composición y organización atómica del material estudiado, y de su periodicidad.
Plazo
El plazo para la recepción de ofertas era de 2025-06-18.
La contratación se publicó en 2025-06-03.
Anuncio de licitación (2025-06-03) Objeto Alcance de la contratación
Título: Equipo de difracción de rayos x, principalmente para materiales policristalinos en capa delgada
Número de referencia: MY25/IUTNA/S/22
Breve descripción:
“Las capacidades de fabricación de materiales y dispositivos a escala micro/nanométrica en obleas de 8” del Instituto de Tecnología Nanofotónica no sólo son...”
Breve descripción
Las capacidades de fabricación de materiales y dispositivos a escala micro/nanométrica en obleas de 8” del Instituto de Tecnología Nanofotónica no sólo son notables, sino que están actualmente ampliándose de forma significativa para alcanzar un nivel superlativo en España y Europa. En el marco de esta ampliación de capacidades, que también incluye nuevas técnicas de caracterización, una de las necesidades perentorias del Instituto es la rápida caracterización composicional de capas de materiales cristalinos, crecidos epitaxialmente o por otras técnicas de fabricación, que también permita detectar la presencia de defectos estructurales, texturas, e incluso la presencia de cierto grado de ordenación (atómica o de poros).
La cristalografía de rayos X es una técnica muy potente y versátil, perfecta para el cometido anteriormente descrito, puesto que permite el estudio y análisis de materiales en base al fenómeno de difracción de los rayos X (DRX) por sólidos en estado cristalino. Para resumir el funcionamiento de este fenómeno, cuando la materia objeto de estudio es irradiada por rayos X, éstos son difractados por los electrones que rodean los átomos, debido a que su longitud de onda es del mismo orden de magnitud que el radio atómico del material. El haz de rayos X emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo de átomos encontrados en su camino. En el caso de los materiales cristalinos, gracias a su estructura periódica, dispersan elásticamente los haces de rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por interferencia constructiva, originando un patrón de difracción. Es posible observar y medir la intensidad y posición de los rayos X difractados, y el análisis matemático de dicha información permite obtener una representación de la composición y organización atómica del material estudiado, y de su periodicidad.
Ver más
Tipo de contrato: Suministros
Productos/servicios: Maquinaria y aparatos microelectrónicos📦
Valor estimado sin IVA: 350 000 EUR 💰
Descripción
Descripción de la contratación:
“Las capacidades de fabricación de materiales y dispositivos a escala micro/nanométrica en obleas de 8” del Instituto de Tecnología Nanofotónica no sólo son...”
Descripción de la contratación
Las capacidades de fabricación de materiales y dispositivos a escala micro/nanométrica en obleas de 8” del Instituto de Tecnología Nanofotónica no sólo son notables, sino que están actualmente ampliándose de forma significativa para alcanzar un nivel superlativo en España y Europa. En el marco de esta ampliación de capacidades, que también incluye nuevas técnicas de caracterización, una de las necesidades perentorias del Instituto es la rápida caracterización composicional de capas de materiales cristalinos, crecidos epitaxialmente o por otras técnicas de fabricación, que también permita detectar la presencia de defectos estructurales, texturas, e incluso la presencia de cierto grado de ordenación (atómica o de poros).
La cristalografía de rayos X es una técnica muy potente y versátil, perfecta para el cometido anteriormente descrito, puesto que permite el estudio y análisis de materiales en base al fenómeno de difracción de los rayos X (DRX) por sólidos en estado cristalino. Para resumir el funcionamiento de este fenómeno, cuando la materia objeto de estudio es irradiada por rayos X, éstos son difractados por los electrones que rodean los átomos, debido a que su longitud de onda es del mismo orden de magnitud que el radio atómico del material. El haz de rayos X emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo de átomos encontrados en su camino. En el caso de los materiales cristalinos, gracias a su estructura periódica, dispersan elásticamente los haces de rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por interferencia constructiva, originando un patrón de difracción. Es posible observar y medir la intensidad y posición de los rayos X difractados, y el análisis matemático de dicha información permite obtener una representación de la composición y organización atómica del material estudiado, y de su periodicidad.
Ver más
Lugar de ejecución: Valencia/València🏙️
Duración: 8 (MONTH)
El plazo que figura a continuación se expresa en número de meses.
Criterios de adjudicación
Criterio de calidad (nombre): Características técnicas adicionales.
Criterio de calidad (ponderación): 30
Precio ✅
Precio (ponderación): 70
Título
Número de identificación del lote: LOT-0000
Procedimiento Tipo de procedimiento
Procedimiento abierto ✅
Procedimiento acelerado:
“Ante la necesidad de proceder a la adjudicación, formalización y ejecución del contrato en los plazos fijados para el desarrollo del Plan de Recuperación,...”
Procedimiento acelerado
Ante la necesidad de proceder a la adjudicación, formalización y ejecución del contrato en los plazos fijados para el desarrollo del Plan de Recuperación, Transformación y Resiliencia y dada la complejidad de los trámites para la preparación de la documentación necesaria.
Dado que resultan impracticables los plazos y requisitos ordinarios de tramitación.
Se considera necesaria la tramitación de urgencia del expediente para poder cumplir los fines del Plan de Recuperación, Transformación y Resiliencia así como las medidas fijadas en el Instrumento Europeo de Recuperación (Next Generation EU) a fin de poder aplicar los fondos europeos.
Ver más Información administrativa
Plazo de recepción de las ofertas o solicitudes de participación: 2025-06-18 23:59:00 📅
Condiciones de apertura de las ofertas: 2025-06-25 09:00:00 📅
Condiciones de apertura de las ofertas (lugar): Sala Centro. Edificio Rectorado 1ª planta. Universitat Politècnica de València.
Lenguas en las que pueden presentarse las ofertas o solicitudes de participación: español 🗣️
Plazo mínimo durante el cual el licitador debe mantener la oferta: 2
Información jurídica, económica, financiera y técnica Condiciones del contrato
Condiciones de ejecución del contrato:
“Ver apartado X del cuadro de características..”
Información complementaria Procedimiento de revisión
Información precisa sobre los plazos de los procedimientos de revisión:
“Advertir a los interesados que el presente acto pone fin a la vía administrativa. Contra el mismo se podrá interponer recurso Contencioso-Administrativo...”
Información precisa sobre los plazos de los procedimientos de revisión
Advertir a los interesados que el presente acto pone fin a la vía administrativa. Contra el mismo se podrá interponer recurso Contencioso-Administrativo ante el órgano jurisdiccional competente de lo Contencioso-Administrativo de la Comunidad Valenciana, dentro del plazo de dos meses contados desde el día siguiente al de la recepción de la notificación de la presente Resolución. No obstante, los interesados podrán optar por interponer contra esta resolución un recurso de reposición, en el plazo de un mes, ante el mismo órgano que la dictó, en cuyo caso no cabrá interponer el recurso Contencioso-Administrativo anteriormente citado en tanto recaiga resolución expresa o presunta de recurso de reposición, de acuerdo con lo dispuesto en el artículo 123 y sig. de la ley 39/2015, de 1 de octubre del procedimiento administrativo común de las administraciones públicas (BOE 2 de octubre de 2015).
En los casos previstos en el artículo 44 de la Ley 9/2017, de 8 de noviembre de Contratos del Sector Público, advertir a los interesados que esta resolución es definitiva en vía administrativa y contra la misma podrá interponerse potestativamente recurso especial en materia de contratación regulado en dicho artículo, ante el órgano de contratación de la Universitat Politécnica de València. El plazo de interposición será de 15 días hábiles, contados a partir del siguiente a aquel en que se remita la notificación del acto impugnado.
En los supuestos de financiación por la U.E. (Fondos NEXT GENERATION),el plazo de interposición del recurso especial en materia de contratación, cuando proceda, será de 10 días naturales y se computará en la forma establecida en el artículo 50.1 de la Ley 9/2017, de 8 de noviembre
Ver más Información sobre flujos de trabajo electrónicos
Se aceptará la facturación electrónica
Se utilizará el pago electrónico
Fuente: OJS 2025/S 106-359786 (2025-06-03)